晶體測試，愛普生EPSON稱呼為CE測試（Crystal Evaluation)、晶體回路匹配測試，主要評估無源晶體回路特性，幫助客戶可靠的使用晶體器件，評估客戶當(dāng)前電路板晶體回路特性。常規(guī)測試是通過調(diào)節(jié)負(fù)載電容等，來評估當(dāng)前晶體回路的頻偏、起振能力（-R）、驅(qū)動功率。

近期，“EPSON-NSCN晶體電路評估聯(lián)合測試中心”正式運(yùn)營，該中心是南山電子在愛普生的指導(dǎo)下成立的，且通過了愛普生的認(rèn)證。

至此，南山電子可為您提供愛普生晶體CE測試服務(wù)， 客戶提供原理圖和電路板，我們進(jìn)行CL的調(diào)整，評估輸出頻率、驅(qū)動功率、起振能力，使其工作在一個穩(wěn)定的、適合的狀態(tài)。我們會在優(yōu)先不改變客戶回路基礎(chǔ)之上進(jìn)行調(diào)節(jié)。

測試地點(diǎn)：EPSON-NSCN晶體電路評估聯(lián)合測試中心

地址：江蘇溧陽市昆侖街道金港路110號（江蘇南山電子工業(yè)有限公司）

聯(lián)系人：全清清（18112328586）     徐文波（13701585577）

如果您需要進(jìn)行CE測試，請下載晶體CE測試表格，并按照以下的說明進(jìn)行填寫，然后發(fā)給我們。

晶體CE測試表格填寫說明：

1.原理圖

需要表示出晶體回路器件編號。如果是多個測試晶體，可以放在一個原理圖中標(biāo)出。下圖為示例：

2. 晶體回路的 PCB layout

需要標(biāo)出晶體和負(fù)載電容位置。如果是多個測試晶體，可以放在一個layout中標(biāo)出；如果有正面和反面測試，請?zhí)峁┱疵娴膒cb截圖。下圖為示例：

3. 實(shí)物位置圖

標(biāo)出晶體實(shí)際位置在電路板上。如果有正反面，請標(biāo)清楚晶體位置。下圖為示例：

4.供電方式，供電按鍵等示意圖

請引出供電線標(biāo)注清楚供電電壓。有電源，請?zhí)峁┕╇婋娫?；有按鍵開關(guān)，請標(biāo)注按鍵位置。下圖為示例：

注意：板子上的晶振必須是通電后能夠始終持續(xù)震蕩的，不可以間歇振蕩，并用標(biāo)簽在板子上貼上貴司的名稱。

如果您需要進(jìn)行CE測試，請下載晶體CE測試表格，并按照以上的說明進(jìn)行填寫，然后發(fā)給我們。